GB/T 2423.1-2008 电工电子产品环境试验 第2部分 试验

电工电子产品环境试验

第2部分：试验方法 试验A：低温

1 范围

GB／T 2423的本部分规定的低温试验适用于非散热和散热试验样品。试验Ab和试验Ad与早期版本无实质性的差异”，增加试验Ae的目的主要是检测那些要求在整个试验过程包括降温调节期间都要通电运行的设备。

本低温试验的目的仅限于用来确定元件、设备或其他产品在低温环境下使用、运输或贮存的能力。

本低温试验不能用来评价试验样品耐温度变化的能力和在温度变化环境下的运行能力，在这种情况下，应采用GB／T 2423.22．

本低温试验方法细分为以下几种：—非散热试验样品低温试验：

·试验Ab，温度渐变。—散热试验样品低温试验：

·试验Ad，温度渐变；

·试验Ae，温度渐变，试验样品在整个试验过程通电。

本部分给出的试验方法通常用于试验期间能达到温度稳定的试验样品。

2 规范性引用文件

下列文件中的条款通过GB／T2423的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本部分，然而，鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本部分。

GB／T 2421 电工电子产品环境试验 第1部分：总则（GB／T 2421—1999，idt IEC 60068—1：1988）GB／T 2422 电工电子产品环境试验 术语（GB／T 2422—1995，eqv IEC 60068—5—2：1990）

GB／T 2423.22 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验N：温度变化（GB／T 2423.22—2002,IEC 60068-2-14:1984,IDT)

GB／T 2424.1 电工电子产品环境试验 高温低温试验导则（GB／T 2424.1—2005，IEC 60068—3—1:1974,IDT)

GB/T 2424.5

电工电子产品环境试验

温度试验箱性能确认（GB／T 2424.5—2006，IEC 60068—3-5:2001,IDT)

GB/T 2424.7

电工电子产品环境试验 试验A和试验B（带负载）用温度试验箱的测量(GB/T 2424.7-2006,IEC 60068-3-7:2001,IDT)

IEC 60721（所有部分）环境条件分级

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